扫描近场光学显微镜SNOM合成了最新的扫描探针技术辨认率可达100nm

扫描近场光学显微镜SNOM合成了最新的扫描探针手艺和光学显微镜手艺，它把微型光学探针十分接近素材样品外表，实现近场成像，获得光学信息后供给的图像辨认率可达100nm以下。

扫描近场光学显微镜Scanning Near Field Optical Microscope可获得阿贝衍射极限的辨认率，摘用扫描探针显微镜压电式扫描手艺和微型光学探针，可获得亚波长辨认率的光学图像。

扫描近场光学显微镜官网

扫描近场光学显微镜SNOM特色

集成双光学视图系统用于切确定位和远场光学研究

兼容宽视场光学显微镜形式

独立或同时的透射和反射丈量形式

超大工做波长范畴

容许光源倒置或吊射

独立的光电探测器用于多重光信号搜集

就有可扩展性

兼容第三方科学研究仪器

扫描近场光学显微镜SNOM利用

纳米科技

素材科学

生命科学

展开全文

生物学

高分子研究

半导体研究

以衍射极限的辨认率获取样品光学图像

扫描近场光学显微镜成果

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